微距测试卡TE274设计用于分析在微距模式下单反相机系统以及小型相机的微距镜头的分辨率和失真。
微距测试卡TE274由两部分组成：
•斜边用于分辨率测量
该测试卡包含15个斜边结构，每个具有两个垂直和两个水平
边缘和聚焦辅助在中心。斜边结构倾斜5°并且具有大约97％的调制。
斜边以一种方式布置，以在图像高度（3：2纵横比）的30％，45％，60％和75％处递送轴分辨率和分辨率。
•交叉图用于失真测量
白色背景上的黑色十字用于确定透镜几何畸变（LGD）和色差。
将微距测试卡放在相机外的桌子上。从测试卡的上部（斜边）开始，将框架中的测试卡滑动到向下位置。调整相机和测试卡之间的距离，直到斜边图表填满图像高度。拍摄图像后，将图框滑动到上边框。现在失真部分恰好在用于拍摄图像的位置。不需要重新调整或重新聚焦。
